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聚焦全球一體化測試服務,紫光展銳正式發布I C TEST品牌

2018-09-19 14:30 14659
在南京市江北新區主辦、紫光集團和紫光展銳承辦的主題為“芯時代 ·共成長”的“2018中國芯片發展高峰論壇”上,紫光展銳正式發布I C TEST品牌。

南京2018年9月19日電 /美通社/ -- 在南京市江北新區主辦、紫光集團和紫光展銳承辦的主題為“芯時代·共成長”的“2018中國芯片發展高峰論壇”上,紫光展銳正式發布I·C TEST品牌。經過多年的技術積累和近30億的資金投入,紫光展銳已建立芯片研發與生產測試、軟件集成測試、硬件測試、系統測試、客戶服務與測試的產品全流程的質量保證體系,并打造一體化測試服務品牌I·C TEST。

一體化測試體系,五星級質量保障

紫光展銳I·C TEST,由(you)兩(liang)部分(fen)組成:I TEST代(dai)表(biao)展銳內部的測(ce)試(shi)質(zhi)量(liang)體(ti)系(xi)(Internal),而(er)C TEST代(dai)表(biao)對外為客戶提(ti)(ti)供服務(wu)的測(ce)試(shi)質(zhi)量(liang)體(ti)系(xi)(Customer)。I TEST測(ce)試(shi)體(ti)系(xi)廣(guang)泛(fan)覆蓋入(ru)(ru)網入(ru)(ru)庫測(ce)試(shi)需求(qiu)和全(quan)球外場驗(yan)收,提(ti)(ti)供7*24小時迭(die)代(dai)服務(wu);C TEST測(ce)試(shi)體(ti)系(xi)采(cai)用客戶定(ding)制的測(ce)試(shi)系(xi)統,界面簡潔操作簡單,提(ti)(ti)供全(quan)方位安卓測(ce)試(shi)服務(wu),當前(qian)測(ce)試(shi)用例(li)已超過20000,且用例(li)還在持續(xu)更新(xin)中。

同時I·C TEST測(ce)試中(zhong)心涵蓋芯片(pian)研發、生產、測(ce)試全流程,為客戶(hu)產品提(ti)供五大(da)質量保障(zhang):

  • 芯片研發與生產測試:配備業界領先的芯片驗證平臺,提供分立器件和電路芯片從晶圓級到系統模塊級封裝測試、芯片可靠性驗證及失效分析,保證芯片良率在業界領先水平;
  • 軟件集成測試:基于自主開發的代碼級版本迭代驗證平臺,通過對軟件代碼變更監控,采取“提交即驗證”的策略,從而有效攔截缺陷、提升研發代碼的質量和效率;
  • 硬件測試:專注于產品硬件研發測試和生產測試,覆蓋電信號、功耗、音頻、可靠性、RF、天線等測試。通過持續的迭代和改進,不斷提高硬件測試效率,降低測試成本,為平臺和客戶硬件項目提供完整的測試驗證服務;
  • 系統測試:產品方案量產前的驗收測試,以500臺以上的樣本、對標業界品牌商極具嚴苛的標準、對齊中國移動等頂級運營商質量要求,開展一致性、兼容性、穩定性、性能、用戶體驗測試,持續為客戶提供高質量的方案平臺;
  • 客戶服務與測試:為展銳手機設計廠商提供測試解決方案及相關服務,協助客戶完善產品驗證體系以支撐量產風險決策,幫助客戶縮短產品上市周期、提升品牌競爭力。

以創新為驅動,以客戶為中心

憑借領先的(de)技術(shu)優(you)勢和管理水平,紫光展銳(rui)于2016年(nian)(nian)成為中(zhong)國(guo)(guo)移動(dong)和中(zhong)國(guo)(guo)聯通(tong)兩大運營商的(de)創新(xin)聯合實驗室(shi)合作伙伴,同年(nian)(nian)獲得中(zhong)國(guo)(guo)合格評定國(guo)(guo)家認可(ke)委員(yuan)會CNAS(ISO17025)認可(ke), 2017年(nian)(nian)成為全球認證論壇GCF的(de)會員(yuan),2018年(nian)(nian)被中(zhong)國(guo)(guo)移動(dong)評為B級合作實驗室(shi)。

秉承“以(yi)客(ke)(ke)為尊(zun),團隊合作,勇(yong)于創新,客(ke)(ke)觀(guan)公正,敏捷交(jiao)付(fu)”的(de)價值觀(guan),紫光展(zhan)銳打(da)造了(le)一流的(de)產(chan)品測(ce)試體系(xi),通(tong)過先進的(de)設備、科學的(de)檢測(ce)方法、全面的(de)驗證(zheng)能力(li)以(yi)及權威的(de)認證(zheng)能力(li),持(chi)續為客(ke)(ke)戶(hu)(hu)提供(gong)高質量(liang)的(de)、全方位的(de)芯(xin)片平臺(tai)解決方案(an),并(bing)為客(ke)(ke)戶(hu)(hu)提供(gong)整(zheng)體測(ce)試解決方案(an),給客(ke)(ke)戶(hu)(hu)賦能,幫助客(ke)(ke)戶(hu)(hu)縮短產(chan)品上(shang)市周期,提升品牌(pai)形(xing)象,同(tong)時(shi)能夠(gou)共(gong)建(jian)從芯(xin)到云的(de)質量(liang)生態(tai)鏈。

紫光展銳高級副總裁兼首席工程師 John Rowland 表示,“非常榮幸發布I·C TEST品牌,紫光展銳憑借對芯片產業的深入了解以及雄厚的全球化技術支持,致力于為客戶提供先進技術的研發以及一站式客戶服務的打造。通過全新I·C TEST品(pin)牌(pai)啟(qi)動(dong)(dong),我們(men)將全面(mian)打通內外資源,在(zai)移(yi)動(dong)(dong)芯(xin)片領域(yu)與客(ke)(ke)戶(hu)(hu)攜手,為客(ke)(ke)戶(hu)(hu)提供較佳的用戶(hu)(hu)體驗,從而與客(ke)(ke)戶(hu)(hu)實現共贏。”

消息來源:紫光展銳
全球TMT
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